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號(2).jpg)
涂層測厚儀可選附件-探頭
產(chǎn)品名稱：
涂層測厚儀可選附件-探頭
品牌名稱：時代
售前咨詢：
400-860-1787
產(chǎn)品優(yōu)勢：
• 全國博士后流動站
• 國內(nèi)外市場占有率高
企業(yè)優(yōu)勢：
• 通過ISO-9000標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證
• 國內(nèi)先進(jìn)的儀器制造企業(yè)
F1探頭
F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270涂層測厚儀的標(biāo)配探頭。
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測頭型號 |
F1 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-1250 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+1] |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
凸1.5 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф7 |
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最小臨界厚度(mm) |
0.5 |
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探頭尺寸（mm) |
ф12X47 |
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N1探頭
N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270覆層測厚儀的標(biāo)配探頭。
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測頭型號 |
N1 |
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工作原理 |
電渦流 |
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測量范圍（um） |
0-1250(銅上鍍鉻0-40um) |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1.5] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+1.5] |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
3 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф5 |
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最小臨界厚度(mm) |
0.3 |
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探頭尺寸（mm) |
ф15X73 |
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F1/90探頭
TT270覆層測厚儀選配F1/90探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細(xì)長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達(dá)的細(xì)管中。夾層和細(xì)縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
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測頭型號 |
F1/90 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-1250 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+1] |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
平直 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф7 |
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最小臨界厚度(mm) |
0.5 |
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探頭尺寸（mm) |
7.5X11X200 |
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F10探頭
TT270涂鍍層測厚儀選配F10探頭，測量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。
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測頭型號 |
F10 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-10000 |
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低限分辨力(um) |
10 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+10] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+10] |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
10 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф40 |
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最小臨界厚度(mm) |
2 |
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探頭尺寸（mm) |
ф27X47 |
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F400探頭
TT270涂鍍層測厚儀選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精確的測量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時，F(xiàn)400探頭也是最佳的選擇。
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測頭型號 |
F400 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-400 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+0.7] |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
凸 1 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф3 |
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最小臨界厚度(mm) |
0.2 |
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探頭尺寸（mm) |
ф12X55 |
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CN02探頭
TT270漆膜測厚儀選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10- 200um之間。
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測頭型號 |
CN02 |
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工作原理 |
電渦流 |
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測量范圍（um） |
10-200 |
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低限分辨力(um) |
1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
- |
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測量條件 |
最小曲率半徑(mm) |
平直 |
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基體最小面積的直徑(mm) |
ф7 |
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最小臨界厚度(mm) |
無限制 |
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探頭尺寸（mm) |
ф16X67 |
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